更新時(shí)間：2024-03-18
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
Fischerscope X-ray XAN215鍍層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)是一款入門(mén)級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀，通常用于對(duì)珠寶、錢(qián)幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 菲希爾X射線測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器一樣，減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。
蘇公網(wǎng)安備32021402002648
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